[发明专利]提高微波信号到达角精度的测量系统及测量方法有效
| 申请号： | 202010262333.7 | 申请日： | 2020-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN111464241B | 公开（公告）日： | 2022-11-04 |
| 发明（设计）人： | 陈浩 | 申请（专利权）人： | 陈浩 |
| 主分类号： | H04B10/516 | 分类号： | H04B10/516;H04B10/548;H04B10/079 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 吴学颖 |
| 地址： | 300252 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高微波信号到达角精度的测量系统及测量方法：激光源连接光耦合器输入侧，光耦合器3端口连接一号偏振控制器，4端口连接二号偏振控制器，一号偏振控制器串联双平行马赫‑曾德尔调制器、一号低频光电探测器、一号低频频谱分析仪，二号偏振控制器串联三号双驱动马赫‑曾德尔调制器、二号低频光电探测器、二号低频频谱分析仪；一号双驱动马赫‑曾德尔调制器一端口连接二号天线，一端口经一号功率分配器连接一号天线；二号双驱动马赫‑曾德尔调制器一端口接地，一端口经二号功率分配器连接本机振荡器；三号双驱动马赫‑曾德尔调制器一端口经一号功率分配器连接一号天线，一端口经二号功率分配器连接本机振荡器。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 微波 信号 到达 精度 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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