[发明专利]一种相含率测量方法及装置有效
| 申请号： | 202010265775.7 | 申请日： | 2020-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN111398371B | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 陈昭;刘马林;王江江;常家兴;陈猛;唐亚平;刘兵 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N27/22 | 分类号： | G01N27/22 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 杨云云 |
| 地址： | 100084 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种相含率测量方法及装置，根据待测量体系轮廓特征以及相介质特征，确定填补区结构；根据所述填补区结构，确定敏感场矩阵；根据所述敏感场矩阵和归一化电容值，得到相含率空间截面分布图。本发明实施例通过填补法和电容层析成像填补成像测量，结构简单，使用方便，同时能够提高准确度，能够适应一般非规则几何形状容器中的多相物质体系中的静态/动态相含率的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相含率 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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