[发明专利]针对GF-AIUS掩星探测基于查找表的切高校正方法

摘要

本发明涉及针对GF‑AIUS掩星探测基于查找表的切高校正方法，包括以下步骤：获取初始数据，对初始数据进行处理得到一级数据，在GF5‑AIUS的探测光谱范围内，分析大气成份中的多种痕量气体的敏感性特征；通过敏感性及光谱特征的分析，在光谱范围基础上，选取包含N2与O3吸收的两个连续的光谱范围，利用正向模型ARTS，模拟两个连续光谱范围上的不同切高上的光谱透过率数据；通过计算不同切高上N2波段与O3波段实际的光谱透过率与模拟光谱透过率的最小方差，确定查找表校正的最小半径范围；在选取的两个N2波段与O3波段连续的探测光谱范围内，分析不同切高上的光谱特征，利用查找表切高校正方法对一级数据中的低层切高与高层切高分别进行校正，合并得到校正后的切高。