[发明专利]一种自动光学检测伪缺陷去除方法及系统有效
| 申请号： | 202010268258.5 | 申请日： | 2020-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN111489337B | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 李凡;杨海东;徐康康;朱成就;印四华 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/25;G06V10/26;G06V10/30;G06V10/44;G06T7/187;G06T7/62 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 黄忠 |
| 地址： | 510060 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种自动光学检测伪缺陷去除方法及系统，包括：将模板图和待检图均划分成轮廓区和非轮廓区；对轮廓区进行空间滤波，采用阈值分割的方法剔除轮廓区的伪缺陷，保留真实缺陷；采用几何均值滤波器对非轮廓区进行滤波；差影几何均值滤波后的非轮廓区，获取非轮廓区的疑似缺陷，将缺陷允许的最小面积作为阈值，删除疑似缺陷中小于阈值的噪点；将剔除伪缺陷的轮廓区以及删除噪点后的非轮廓区合并，提取图像的真实缺陷。本申请能够去除配准时产生的轮廓伪影，同时不会影响真实缺陷造成缺陷漏检。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动 光学 检测 缺陷 去除 方法 系统 | ||
【主权项】：
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