[发明专利]一种用于激光量热光学元件吸收损耗测试装置的改进样品夹具结构在审
申请号: | 202010268352.0 | 申请日: | 2020-04-08 |
公开(公告)号: | CN111579216A | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 李斌成;孙诚;赵斌兴 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开一种用于激光量热光学元件吸收损耗测试装置的改进样品夹具结构,包括电机、正反牙丝杆、导轨、滑台、联轴器、两个温度传感器(NTC)、支杆和支架,其特征在于:激光量热法测量光学元件吸收损耗的过程是将置于被测光学元件前表面特定位置处的温度传感器测量得到的温度数据拟合到特定温度模型获得被测光学元件的吸收损耗值,所用样品夹具中用于测量被测光学元件由于激光照射产生的温度上升的温度传感器位置固定。改进的样品夹具结构为:样品夹具中温度传感器位置可根据被测光学元件的几何结构尺寸和热物理特性参数进行自动化精细调节,并结合精确温度模型,从而获得更准确的被测光学元件吸收损耗测量值。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 激光 光学 元件 吸收 损耗 测试 装置 改进 样品 夹具 结构 | ||
【主权项】:
暂无信息
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