[发明专利]基于光辐射的晶圆清洗设备和包括其的晶圆清洗系统在审

专利信息
申请号: 202010268743.2 申请日: 2020-04-08
公开(公告)号: CN112071770A 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 赵炳权;朴相真;高镛璿;S·田;郑志薰;洪晟植 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 赵南;张青
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了基于光辐射的晶圆清洗设备以及包括该晶圆清洗设备的晶圆清洗系统,该晶圆清洗设备能够有效地清洗晶圆上的残留物而不损坏晶圆。该晶圆清洗设备构造为通过光辐射来清洗晶圆上的残留物,并且包括:光辐射单元,其构造为在光辐射期间将光辐射到晶圆上;晶圆处理单元,其构造为为容纳晶圆并控制晶圆的位置,使得在光辐射期间将光辐射到晶圆上;以及冷却单元,其构造为在已经完成光辐射之后冷却晶圆。光辐射单元、晶圆处理单元和冷却单元顺序地布置在竖直结构中,光辐射单元位于晶圆处理单元上方,并且晶圆处理单元位于冷却单元上方。
搜索关键词: 基于 光辐射 清洗 设备 包括 系统
【主权项】:
暂无信息
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