[发明专利]数据完整性检查的方法与集成电路在审
| 申请号： | 202010269117.5 | 申请日： | 2020-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN112068984A | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 陈耕晖;张坤龙;张逸凡 | 申请（专利权）人： | 旺宏电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;G06F21/64 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种数据完整性检查的方法与集成电路，集成电路包括可寻址(addressable)存储器和接收器。数据完整性逻辑耦接到输入数据路径并接收具有参考地址的数据流，且接收具有数据完整性代码的数据块(chunks)。数据完整性逻辑包括配置存储器，以存储数据完整性检查的配置数据。集成电路包括解析来自数据流的数据块和数据完整性代码的逻辑、以及数据流中所计算的数据块的数据完整性代码的逻辑，并且将计算的数据完整性代码与接收的数据进行比较以检验数据错误。数据完整性逻辑包括响应于配置数据的逻辑，配置数据控制数据完整性逻辑。数据完整性数据指浮动边界CRC模式或固定边界CRC模式。 | ||
| 搜索关键词： | 数据 完整性 检查 方法 集成电路 | ||
【主权项】：
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