[发明专利]一种基于散射-衍射转变结构色的纳米检测及光学成像方法有效
| 申请号： | 202010274082.4 | 申请日： | 2020-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN111337508B | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 张泽英;苏萌;宋延林 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/95;G01N21/47;G01N15/00;G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 严政;刘依云 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及光学纳米成像技术领域，公开了一种基于散射‑衍射转变结构色的纳米检测及光学成像方法。该方法包括：(1)将纳米颗粒置于基底上，通过溶液自组装法得到大面积的一维纳米结构；(2)将一维纳米结构置于光学显微镜的载物台上，入射光大角度照射一维纳米结构，接收散射光和衍射光，采集散射‑衍射转变光谱后成像得到初始光学图像；(3)通过散射‑衍射转变光谱推断纳米颗粒的尺寸，然后结合得到的初始光学图像进行图像分析，推断缺陷的类型、位置和尺寸，重构一维纳米结构。该发明能检测一维纳米结构中单个纳米颗粒的尺寸差异和缺陷，能够精确地重构纳米颗粒组装成的一维纳米结构。该技术操作简单，便于大面积检测和成像一维结构。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 散射 衍射 转变 结构 纳米 检测 光学 成像 方法 | ||
【主权项】：
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