[发明专利]校准工具和方法在审
| 申请号： | 202010276513.0 | 申请日： | 2020-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN111795682A | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | E·G·凯利;J·范德弗鲁格特;N·蒂伦伯格;T·J·韦布鲁根;P·比克曼;C·J·范沃斯库伦;R·努塞尔德;G·A·伯格霍斯特;T·R·沃拉恩;B·科夫德;Q·M·伯格曼斯 | 申请（专利权）人： | VMI荷兰公司 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 江漪 |
| 地址： | 荷兰*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于校准激光三角测量系统的校准工具和方法，其中，该校准工具包括限定参考平面的工具主体，其相对于测量系统可绕垂直于所述参考平面的旋转轴线旋转，其中，该工具主体设置有一个或多个校准表面，校准表面限定校准位置的图案，其中，该图案包括在远离旋转轴线的径向上延伸的至少三列和绕旋转轴线沿周向延伸的至少三排，其中，对于每列，所述相应列内的校准位置相对于参考平面的高度在垂直于所述参考平面的高度方向上有所变化，并且其中，对于每排，相应排内的校准位置的高度相对于所述参考平面在高度方向上有所变化。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 工具 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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