[发明专利]面向基因比对的细粒度并行负载特征抽取分析方法及系统有效
申请号: | 202010278219.3 | 申请日: | 2020-04-10 |
公开(公告)号: | CN111584011B | 公开(公告)日: | 2023-08-29 |
发明(设计)人: | 谭光明;刘万奇;臧大伟;陈灿;孙凝晖 | 申请(专利权)人: | 中国科学院计算技术研究所 |
主分类号: | G16B50/00 | 分类号: | G16B50/00;G16B50/50;G16B30/10;G06F12/0877;G06F12/0862;G06F9/30 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 祁建国 |
地址: | 100080 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出一种面向基因比对的细粒度并行负载特征抽取分析方法及系统。本发明抽取的这些负载特征着眼于设计细节,以较细的粒度来分析基因比对的应用,从而使得加速器的结构更具有针对性、效率更高。很多加速器设计均着眼于应用的整体层面,着重刻画应用的“粗粒度”的特征,而定制结构的设计最终还是要落在细节上。此外,这些细粒度的负载特征常常出现在多个基准程序或者应用软件中,本文对这些“共性”部分进行归纳和抽象,对并行模式相同的特征给出统一的设计方案指导,提升了结构设计方法的通用性。 | ||
搜索关键词: | 面向 基因 细粒度 并行 负载 特征 抽取 分析 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院计算技术研究所,未经中国科学院计算技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010278219.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种压电执行器部件封装预紧力检测装置
- 下一篇:一种侧推装置对中的方法