[发明专利]金属杂质检查装置有效
| 申请号： | 202010293126.8 | 申请日： | 2020-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN112014889B | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 野濑尊之;大西友治;小平法美;田中悠一朗;松本俊昭 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立大厦系统 |
| 主分类号： | G01V3/11 | 分类号： | G01V3/11 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 金成哲;宋春华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供以简单的结构高精度地检测具有粘性的物质内的磁性体的技术。金属杂质检查装置(100)检测包含于具有粘性的物质即粘性物质内的金属杂质，其具备：将粘性物质维持为恒定的厚度而保持的保持装置(110)；检测粘性物质内的金属杂质的检测装置(130)；以及引导保持装置在检测装置之上滑动自如的滑动导向件(120)，检测装置具备多个具有在保持装置(110)滑动的方向上交替配置的振荡线圈(136)和接收线圈(138)的线圈组(131)，振荡线圈(136)生成交流磁场，接收线圈将基于振荡线圈(136)生成的交流磁场的磁场波形作为输出数据而输出，多个线圈组(131)分别配置于在保持装置滑动的滑动面上与滑动的方向正交的方向的不同的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 金属 杂质 检查 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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