[发明专利]一种纳米线数量统计方法及系统有效
| 申请号： | 202010294470.9 | 申请日： | 2020-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN111507956B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 李政林;王妙妙;蒋春利;王志;关磊 | 申请（专利权）人： | 广西科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/187;G06T7/136;G06V10/28;G06V20/69 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘凤玲 |
| 地址： | 545006 广西壮族*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种纳米线数量统计方法及系统。该方法包括：获取待统计的纳米线图像；对纳米线图像进行预处理，得到预处理后的图像；对预处理后的图像进行细化，提取纳米线骨架，得到细化后的纳米线图像；统计细化后的纳米线图像中的端点数量和孤立点数量；识别细化后的纳米线图像中的节点；将节点连通距离小于预设阈值的两个节点合并，将合并处理后的所有节点均标记为合并后节点；在合并后节点中识别邻域包含奇数个前景点的节点，得到奇连接合并后节点的数量；利用端点数量、孤立点数量以及奇连接合并后节点的数量计算纳米线的数量。本发明能够避免大量多余短线的产生，提高纳米线数量统计的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 数量 统计 方法 系统 | ||
【主权项】：
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