[发明专利]垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪在审
| 申请号： | 202010298483.3 | 申请日： | 2020-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN111366108A | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 张树;施玉书;皮磊;史舟淼;高思田;李伟;李琪;李适;黄鹭 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 张德才 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种垂直式表面粗糙度测头及表面粗糙度仪，垂直式表面粗糙度测头包括固定架、移动架、位移测量模块、针杆、触针和导向装置，移动架竖向滑动连接于固定架上，移动架上设置针杆，移动架的底板上设有导向装置，导向装置能够用于对针杆进行竖向导向以防止针杆摆动，针杆的底端固定设置有触针，针杆穿过导向装置，触针贯穿移动架的底板，位移测量模块用于测量针杆竖直方向上的移动距离；表面粗糙度仪包括架体、移动装置和上述的垂直式表面粗糙度测头。本发明中，触针与针杆在导向装置的作用下，测量过程中始终与工件表面垂直，操作简便、测量精准程度高。 | ||
| 搜索关键词： | 垂直 表面 粗糙 度测头 | ||
【主权项】：
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