[发明专利]缺陷判断训练方法及其的系统及缺陷判断方法及其的系统有效
| 申请号： | 202010300051.1 | 申请日： | 2020-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN111507961B | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 吴精文;李世欣 | 申请（专利权）人： | 住华科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 张燕华 |
| 地址： | 中国台湾台南*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 缺陷判断训练方法包括以下步骤。首先，获取光学膜的图像，图像包含一缺陷区。然后，取得缺陷区的缺陷边界的多个边界点沿方向的多个座标值。然后，取得此些座标值的平均座标值。然后，取得各座标值与平均座标值的差值。然后，依据此些差值的最大者，决定图像中做为缺陷判断机器学习的区域。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 判断 训练 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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