[发明专利]一种存储器老炼测试的电路板及方法在审
| 申请号： | 202010301192.5 | 申请日： | 2020-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN111462810A | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 赵五喜;刘刚奇;孟楠;张燕 | 申请（专利权）人： | 西安太乙电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 房鑫 |
| 地址： | 710075*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种存储器老炼测试的电路板及方法，电路板包括老炼主板，老炼主板上设置有主控制器和老炼辅板，老炼辅板上设置有主辅板接插件，老炼被测存储器安装在主辅板接插件上，主辅板接插件通过主板资源引出接口模块连接主控制器，所述的主控制器连接程序存储器，程序存储器中设置有老炼向量，主控制器通过输出结果指示模块显示老炼被测存储器是否正常工作，主控制器通过设置在老炼主板上的主控制器电源电路进行供电。本发明存储器老炼测试的电路板能够产生不同频率的高速时钟信号，能够模拟被测存储器实际使用工作状态，能够实现器件内部高覆盖率的逻辑节点翻转，检测老炼板上每一只器件所有管脚的输入激励信号和输出信号，实际使用中方便易用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 测试 电路板 方法 | ||
【主权项】：
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