[发明专利]基于光场EPI傅里叶变换的折射特征检测方法有效
| 申请号： | 202010301723.0 | 申请日： | 2020-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN111583191B | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 金海燕;孙彤鑫;肖照林 | 申请（专利权）人： | 西安理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/10;G06T11/60;G02B27/00 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人： | 燕肇琪 |
| 地址： | 710048 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明基于光场EPI傅里叶变换的折射特征检测方法，具体按照以下步骤实施：步骤1、对光场原始图像进行解码得到四维参数化矩阵L[s，t，u，v]；步骤2、利用四维参数化矩阵L[s，t，u，v]提取得到多个子孔径图像，并将所有的子孔径图像处理得到多个光场水平EPI图像；步骤3、将每个光场水平EPI图像划分为多等份图像，对每等份图像依次进行傅里叶变换、频谱中心化操作得到每等份图像对应的频域图像；步骤4、对每个光场水平EPI图像对应的所有等份频域图像依次进行检测分析确定频域图像上是否存在折射特征，进而确定光场原始图像上的折射区域。本发明基于光场EPI傅里叶变换的折射特征检测方法，能够精确检测出折射特征。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 epi 傅里叶变换 折射 特征 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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