[发明专利]一种岩样孔隙发育状况评估方法有效
| 申请号： | 202010304621.4 | 申请日： | 2020-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN111537417B | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 徐志朋;林缅;江文滨;姬莉莉;曹高辉;周羁;曾彦 | 申请（专利权）人： | 中国科学院力学研究所 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;G01V1/50;G01V5/10 |
| 代理公司： | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人： | 胡剑辉 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及一种岩样孔隙发育状况评估方法，所述方法包括：获取岩样以及与所述岩样对应的中子测井值与声波测井值；测试所述岩样的孔隙度；耦合所述岩样的孔隙度、所述中子测井值以及所述声波测井值，建立所述岩样的孔隙发育情况划分图版；根据所述岩样的孔隙发育情况划分图版，评估所述岩样的孔隙发育情况。如此通过耦合岩样的孔隙度、中子测井值以及声波测井值，提供一个新的岩样的孔隙发育情况划分图版，可以准确地预测岩样孔隙发育状况，尤其对于孔隙结构性质复杂的非均质岩样。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 孔隙 发育 状况 评估 方法 | ||
【主权项】：
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