[发明专利]使用近场微波的介电谱显微测量在审
| 申请号： | 202010308354.8 | 申请日： | 2020-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN111351807A | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 张洮 | 申请（专利权）人： | 李赞 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201210 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种使用近场微波的介电谱显微测量的系统或方法，包括：微波源，可调微波谐振器，探头，微波检测电路，位置装置和介电谱计算电路。微波源生成微波信号施加到可调微波谐振器；调整或固定探头距离被测物目标区域的位置；调谐可调微波谐振器；探头将微波信号施加到被测物目标区域；探测反射微波信号；确定被测物目标区域的介电谱。为研究被测物目标区域微波范围的极化机制提供更为完整，直接和准确的信息。填补了微波介电谱显微测量系统的技术空白。增加温控装置，可进一步提供微波介电温谱显微测量功能。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 近场 微波 介电谱 显微 测量 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于李赞，未经李赞许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010308354.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
