[发明专利]X射线吸收边探测信号增强方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010314103.0 申请日: 2020-04-20
公开(公告)号: CN111413357B 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 王哲;张志都;户金铭;张效梅;魏存峰;魏龙 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/046;G01N23/083
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 孙宝海;袁礼君
地址: 100049 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供一种X射线吸收边探测信号增强方法、装置、设备及存储介质,涉及信号处理技术领域。该方法包括:获取由X射线透射的具有吸收边效应的材料的理论衰减系数函数的曲线中的理论吸收边能量;根据理论吸收边能量获得多个备选探测能段;对于多个备选探测能段中的各个备选探测能段,根据理论衰减系数函数和X射线的能谱函数计算探测信号质量指标;根据与各个备选探测能段对应的探测信号质量指标从多个备选探测能段中选择增强探测能段以获得增强X射线吸收边探测信号。该方法可获得较为接近实际的物质吸收边能量,一定程度提高了X射线吸收边探测信号的增强能力。
搜索关键词: 射线 吸收 探测 信号 增强 方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
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