[发明专利]GaN-金刚石-Si半导体结构、器件及制备方法有效

专利信息
申请号: 202010319861.1 申请日: 2020-04-22
公开(公告)号: CN111223927B 公开(公告)日: 2021-07-30
发明(设计)人: 马飞;冯光建;程明芳 申请(专利权)人: 浙江集迈科微电子有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L23/373;H01L21/335
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 313100 浙江省湖州市长兴县经济技术开发*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种GaN‑金刚石‑Si半导体结构、器件及制备方法,在键合工艺前,通过较厚的AlxGa1‑xN叠层作为缓冲层使用;在键合工艺后,仅保留临近GaN沟道层的最小x值的AlxGa1‑xN层,以作为AlxGa1‑xN势垒层;通过金刚石薄膜键合,并通过新的第二Si衬底取代第一Si衬底,且优选第二Si衬底采用Si(100)衬底。本发明在解决应力问题的同时,制备工艺简单,适用性较强,且制备的结构及器件具有良好的散热性及可靠性,且可降低单位成本,提高产量。
搜索关键词: gan 金刚石 si 半导体 结构 器件 制备 方法
【主权项】:
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