[发明专利]基于深度学习的电子元件极性检测方法、系统及电子装置在审
| 申请号： | 202010322621.7 | 申请日： | 2020-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN111640088A | 公开（公告）日： | 2020-09-08 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 深圳拓邦股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/90;G06T5/00;G06K9/32;G06K9/62;G01N21/956 |
| 代理公司： | 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 | 代理人： | 冯小梅 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及基于深度学习的电子元件极性检测方法、系统及电子装置，包括：通过图像采集装置获取PCBA图像；采用预设方法对PCBA图像进行预处理，得电子元件图像；电子元件图像为电子元件的感兴趣区域图像；采用预设算法对电子元件图像进行处理，获得电子元件的方向信息；根据方向信息输出检测结果。本发明可自动提取特征，能适应不同大小、不同颜色、不同光照下的成像，可方便推广到不同的电子元件极性检测，可高效重复使用，有效缩短产品开发周期，开发更简单，电子元件极性检测准确率高，检测结果精准。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 深度 学习 电子元件 极性 检测 方法 系统 电子 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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