[发明专利]一种基于45度镜宽幅多元并扫成像的像旋校正方法有效
申请号: | 202010324691.6 | 申请日: | 2020-04-23 |
公开(公告)号: | CN111598784B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 段慧仙;刘云猛;柴金广;王阳;丁雷 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G06T3/60 | 分类号: | G06T3/60;G06T3/40 |
代理公司: | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于45度镜宽幅多元并扫成像的像旋校正方法,该方法包括以下步骤:首先,建立无像旋图像坐标系,并在无像旋图像上任意选择某一点P;其次,判断图像点P是否在探测器范围内;之后,建立探测器面坐标系,根据扫描镜旋转角度θ计算得到图像点P在原始像旋转图像中对应的图像坐标;最后,根据无像旋图像每一列和行的坐标计算出该像元在原始像旋图像中的具体位置,通过重采样获得校正后的无像旋图像的灰度值,进而得到整幅原始像旋图像的校正图像。由本发明方法校正后的图像和原始像旋图像相似性对比,有效地解决45度镜宽幅多元并扫成像带来的像旋问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 45 宽幅 多元 成像 校正 方法 | ||
【主权项】:
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