[发明专利]一种Ge/Si衬底及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010338509.2 申请日: 2020-04-26
公开(公告)号: CN113555457B 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 芦红;魏炼;苗艺;李晨;陈延峰 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: H01L31/028 分类号: H01L31/028;H01L31/0352;H01L31/18;H01L21/02
代理公司: 北京嘉和天工知识产权代理事务所(普通合伙) 11269 代理人: 缪策;严慎
地址: 210046 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种Ge/Si衬底,其包括依次层叠设置的Si衬底、Si缓冲层和Ge薄膜,所述Ge薄膜通过外延法生长在所述Si缓冲层上,其中所述Ge薄膜的空穴迁移率大于1000cm2/Vs。本发明提供的Ge/Si衬底中,Ge薄膜表面平整,单晶质量高,晶格可以完全弛豫,空穴载流子迁移率大于1000cm2/Vs,最高可达1300cm2/V·s,可以极大的推动Si基Ge光子技术的发展,另外本发明的Ge/Si衬底可以代替锗衬底,用于材料的外延生长及后续的器件集成和加工。本发明还提供了Ge/Si衬底的制备方法。
搜索关键词: 一种 ge si 衬底 及其 制备 方法
【主权项】:
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