[发明专利]一种光学系统的点源透射比测量方法及系统有效
| 申请号： | 202010344018.9 | 申请日： | 2020-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN111487040B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 王维;陆琳;王玮鹭;孟庆宇;王栋;徐抒岩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 薛娇 |
| 地址： | 130033 吉林省长春市*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学系统的点源透射比测量方法，包括通过激光光源产生脉冲激光光束向待测光学系统的光线入口入射；探测光学系统的焦面位置的焦面辐照度峰值；通过激光光源产生连续激光光束，以大于待测光学系统视场角的角度向待测光学系统的光线入口入射，其中，脉冲激光光束的功率和连续激光光束的功率相等；透过衰减片探测光学系统的入瞳位置的入瞳辐照度平均值；根据辐照峰值信号和辐照平均值信号获得点源透射比。本申请中采用脉冲激光和连续激光作为测试激光，缩小焦面辐照度和入瞳辐照度测量的的数量级差距，降低了衰减片的衰减倍率，提高点源透射比的测量精度。本申请还提供了一种光学系统的点源透射比测量系统，具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学系统 透射 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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