[发明专利]高频材料的电性能评价方法在审
| 申请号： | 202010347454.1 | 申请日： | 2020-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN111474413A | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 房兰霞;郭建君;虞成城 | 申请（专利权）人： | 深圳市信维通信股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 王芳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高频材料的电性能评价方法，包括：获取待评价高频材料的待测长度；将所述待评价高频材料制作成特性阻抗一致且长度值呈等差数列的微带线样品，所述微带线样品的公差为所述待测长度；对所述微带线样品进行插入损耗测试，得到插入损耗值；计算相邻两个微带线样品的插入损耗值的差值，然后计算所述差值的平均值，得到所述待评价高频材料在待测长度的插入损耗。将待评价高频材料制作成特性阻抗一致且长度值呈等差数列的微带线样品，然后测试微带线样品的插入损耗值，就可以计算得到待评价高频材料在待测长度的插入损耗，可以避免测量误差，且可以更加准确、全面地评估高频材料的电性能。 | ||
| 搜索关键词： | 高频 材料 性能 评价 方法 | ||
【主权项】：
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