[发明专利]基于双层嵌套结构的SAR装备任务失效成因推理方法有效
申请号: | 202010351812.6 | 申请日: | 2020-04-28 |
公开(公告)号: | CN111553421B | 公开(公告)日: | 2022-03-08 |
发明(设计)人: | 凡时财;史顺周;邹见效;徐红兵 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62;G06V10/764;G06V10/774;G06T7/00;G06T7/45 |
代理公司: | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 | 代理人: | 陈选中 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于双层嵌套结构的SAR装备任务失效成因推理方法,涉及SAR装备保障技术领域,包括:收集已知异常类型的SAR图像数据;重构样本类别,提取样本集;计算图像质量评估特征;图像特征变换、归一化处理和类标记合并;整合获取训练数据集 |
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搜索关键词: | 基于 双层 嵌套 结构 sar 装备 任务 失效 成因 推理 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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