[发明专利]一种直剪试验用不吻合结构面试样制备方法有效

专利信息
申请号: 202010352679.6 申请日: 2020-04-28
公开(公告)号: CN111487100B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 崔国建;张传庆;高阳;郭宇航;卢景景;周辉 申请(专利权)人: 中国科学院武汉岩土力学研究所
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N3/24
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 代理人: 张晓冬
地址: 430071 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于岩体工程技术领域,公开了一种直剪试验用不吻合结构面试样制备方法,包括:选取原始结构面试样,三维扫描所述原始结构面试样的结构面获取原始结构面信息;基于所述原始结构面信息制备多对第一结构面试样以及与所述第一结构面试样吻合的第二结构面试样;基于吻合的所述第一结构面试样和所述第二结构面试样,通过控制初始法向应力及剪切位移进行一些列单变量直剪切试验,获取多个不同不吻合度原型试样;清洁所述原型试样的第二结构面,通过三维扫描获取第二结构面信息;基于所述第二结构面信息制备不吻合结构面试样。本发明提供的直剪试验用不吻合结构面试样制备方法能够精确可靠可控的制备一系列不同步吻合度的试样。
搜索关键词: 一种 试验 吻合 结构 试样 制备 方法
【主权项】:
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