[发明专利]一种适用于角形件检查的涡流阵列探头在审

专利信息
申请号: 202010357254.4 申请日: 2020-04-29
公开(公告)号: CN113567544A 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: 张耀;祁攀;向池新;吴保庚;刘杨 申请(专利权)人: 核动力运行研究所
主分类号: G01N27/904 分类号: G01N27/904
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 陈早璟
地址: 430223 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及无损检测领域,具体涉及一种适用于角形件检查的涡流阵列探头。本装置探头可放置轴绕式激励线圈和密排点式接收线圈,两侧的轴绕式激励线圈和中间错位排布的密排点式接收线圈;轴绕式激励线圈的铜质漆包线的直径为0.3mm~1mm之间;密排点式接收线圈的铜质漆包线的直径为0.03mm~0.1mm之间。本探头可以良好的实现对于L型区域的竖直部分和水平部分的检查;通过轴绕式线圈与点式线圈的激励模式的切换,实现对于不同取向缺陷的有效检查。
搜索关键词: 一种 适用于 角形 检查 涡流 阵列 探头
【主权项】:
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