[发明专利]基准面定位机构及长度、圆周度检测装置在审

专利信息
申请号: 202010361213.2 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN111536880A 公开(公告)日: 2020-08-14
发明(设计)人: 陈泓璋;刘佳明;张代福;熊盼;王宁;银希平 申请(专利权)人: 成都瑞拓科技股份有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/24;G01B5/00
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 杨春
地址: 610041 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基准面定位机构,包括转轴、基准面和检测通道,转轴竖直设置,多个基准面均水平固定在转轴上,且多个基准面绕转轴环向分布,并实现高低错开设置、环向错开设置;固定的检测通道与转轴平行设置,进行样品检测时,样品竖直放置于基准面上,且样品位于检测通道内。长度、圆周度检测装置,包括基准面定位机构,还包括激光检测仪,激光检测仪安装于检测通道上部,激光检测仪的激光面通过位于检测通道内的样品。基准面定位机构同时为长度与圆周度测量提供多个不同高度的基准面,通过转轴带动基准面转动,实现检测通道内不同高度的基准面的切换,且单个基准面的高度固定不动,可消除基准面的高度误差,确保卷烟及滤棒的检测数据的正确。
搜索关键词: 基准面 定位 机构 长度 圆周 检测 装置
【主权项】:
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