[发明专利]无损检测装置及无损检测方法有效
| 申请号： | 202010361435.4 | 申请日： | 2020-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN111537606B | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 刘小川;秦经刚;周超;武玉;李建刚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01N29/24;G01N27/72 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 230031 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明的实施例涉及无损检测装置及无损检测方法。其中，一种无损检测装置包括：激励部件、采集部件和探头，所述激励部件连接至所述探头，并向所述探头提供能量；所述探头向待检测工件发射第一信号并接收与所述第一信号相对应的第二信号；所述采集部件连接至所述探头，并从所述探头采集所述第一信号和所述第二信号；其中，所述无损检测装置还包括探头外围组件，所述探头外围组件包围所述探头，从而在所述探头的外围形成使得所述探头与外部环境隔绝的第一空间。根据本发明的实施例，能够实现适用于低温环境的简单易行的无损检测，例如对超导磁体的无损检测。 | ||
| 搜索关键词： | 无损 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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