[发明专利]一种RKE性能测试装置及系统在审
| 申请号： | 202010362917.1 | 申请日： | 2020-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN111505422A | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 陈正才;侯文斌;席春磊;刘再兴;石磊 | 申请（专利权）人： | 无锡华普微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R23/02 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷红梅;陈丽丽 |
| 地址： | 214135 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及射频技术领域，具体公开了一种RKE性能测试装置，其中，包括：压紧固定机构、驱动机构、测试台和设置在测试台上的控制台，压紧固定机构设置在控制台上，驱动机构与测试台连接，控制台用于通过压紧固定机构固定待测试的RKE，测试台包括测试壳体，测试壳体内设置有RKE接收电路，RKE接收电路与待测试的RKE通信连接，RKE接收电路与上位机通信连接；驱动机构能够根据上位机的控制指令控制压紧固定机构的升降以及控制压紧固定机构对待测试的RKE压紧到位；RKE接收电路能够接收待测试的RKE发射的射频信号，并将对应的按键值信息发送至上位机。本发明还公开了一种RKE性能测试系统。本发明提供的RKE性能测试装置能够实现对RKE性能的自动化测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 rke 性能 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
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