[发明专利]一种光谱测量方法和装置在审

专利信息
申请号: 202010364227.X 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN111458024A 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 董翊 申请(专利权)人: 南京伯克利新材料科技有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02
代理公司: 深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 44368 代理人: 齐文剑
地址: 210008 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明实施例提供了一种光谱测量方法和一种光谱测量装置,包括:通过滤色装置将待测光转化为透射光数据;通过数据处理装置将所述透射光数据转化为透射光图像,将所述透射光图像划分出N个第一透射单元,并计算所述第一透射单元的透射光强P;在所述第一透射单元内选取N个均匀间隔波长的波长位置,根据所述透射光强P和所述波长位置相对应的透射率αn建立包含对应所述波长位置的入射光强xn的方程;建立N个包含所述入射光强xn的透射光强Pm的方程,计算出待测光光谱。本发明提高了光谱测量的灵敏度和分辨率,也不需要狭缝与光栅,从而能够较低成本地获取高质量的光谱数据。
搜索关键词: 一种 光谱 测量方法 装置
【主权项】:
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