[发明专利]一种光谱测量方法和装置在审
申请号: | 202010364227.X | 申请日: | 2020-04-30 |
公开(公告)号: | CN111458024A | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 董翊 | 申请(专利权)人: | 南京伯克利新材料科技有限公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/02 |
代理公司: | 深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 44368 | 代理人: | 齐文剑 |
地址: | 210008 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明实施例提供了一种光谱测量方法和一种光谱测量装置,包括:通过滤色装置将待测光转化为透射光数据;通过数据处理装置将所述透射光数据转化为透射光图像,将所述透射光图像划分出N个第一透射单元,并计算所述第一透射单元的透射光强P;在所述第一透射单元内选取N个均匀间隔波长的波长位置,根据所述透射光强P和所述波长位置相对应的透射率α |
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搜索关键词: | 一种 光谱 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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