[发明专利]基于地表入射短波辐射的山地地表反射率地形改正方法在审

专利信息
申请号: 202010376101.4 申请日: 2020-05-07
公开(公告)号: CN111563228A 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 赵伟;尹高飞 申请(专利权)人: 中国科学院;水利部成都山地灾害与环境研究所
主分类号: G06F17/10 分类号: G06F17/10
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 高琦
地址: 610041 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了基于地表入射短波辐射的山地地表反射率地形改正方法,包括粗分辨率静止气象卫星数据与高分辨率遥感数据空间匹配;MSG地表入射短波辐射产品空间降尺度;高分辨率遥感数据分层;不同数据层地表反射率数据地形效应改正;不同数据层地表反射率结果综合与最终改正结果生成。本发明通过耦合静止气象卫星数据反演获得粗分辨率地表入射短波辐射数据,通过空间降尺度获得高分辨率地表入射短波辐射数据,然后再对高分辨率卫星地表反射率进行地形辐射改正,通过同步考虑直射辐射和散射辐射,消除了传统方法在直射辐射较低或者缺失地区的过校正或者欠校正问题,为山地地表反射率数据有效开展山地环境监测提供了重要的前期数据处理方法基础。
搜索关键词: 基于 地表 入射 短波 辐射 山地 反射率 地形 改正 方法
【主权项】:
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