[发明专利]一种集成MOSFET及二极管的半导体装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202010378707.1 申请日: 2020-05-07
公开(公告)号: CN111403487A 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 郑亚良;李浩南;陈伟钿;周永昌;张永杰;孙倩;黎沛涛 申请(专利权)人: 创能动力科技有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 代理人: 许铨芬
地址: 中国香港新界大埔白石角*** 国省代码: 香港;81
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摘要: 发明涉及半导体技术领域,公开了一种集成MOSFET及二极管的半导体装置及其制造方法。MOSFET包括第一阱区、第一源区、第一栅氧化层及第一栅极,二极管包括第二阱区、第二源区、第二栅氧化层及第二栅极,半导体装置还包括重掺杂区、第一接触区、第二接触区、第一调制掺杂区、第二调制掺杂区、源金属区及漏金属区,第一栅极与第二栅极电学隔离,源金属区与第二栅极电学连接,重掺杂区分别与第一栅氧化层及第二栅氧化层接触。通过以上方式,可大大减小第一栅氧化层及第二栅氧化层在反向电压时的电场强度,从而提高半导体装置的可靠性,同时,可降低二极管的导通压降以减少功率损耗。
搜索关键词: 一种 集成 mosfet 二极管 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
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