[发明专利]基于SPI配置方式的大容量FPGA的测试工装和测试方法在审

专利信息
申请号: 202010379059.1 申请日: 2020-05-07
公开(公告)号: CN111638444A 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 赵永兴;罗向阳;陈章涛;宋芳;李永梅;袁云华;李进;杜鹃;梁玉静;朱云霞;孙浩;赵晓洁 申请(专利权)人: 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317;G01R31/3181
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 徐祥生
地址: 432000*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及基于SPI配置方式的大容量FPGA的测试工装和测试方法。测试工装包括底板、被测器件座、配置芯片、JTAG接口、电源接口、电阻和插针座,其特征是被测器件座与底板可拆卸连接,印制线的间距为5mil以上,与被测器件座的电源顶针和接地顶针对应的焊盘集中布置在底板的中间位置。测试方法包括以下步骤:设计电路逻辑;进行电路逻辑波形仿真试验;设计顶层文件TOP;使用SPI配置方式生成配置文件并烧录;编写测试图形向量文件;在J750测试系统上编写测试程序;FPGA测试。采用本发明,可满足大容量FPGA的存储需求,基本逻辑单元覆盖率达90%以上而且可移植性好。本发明制作成本低、电磁干扰小、维修方便。
搜索关键词: 基于 spi 配置 方式 容量 fpga 测试 工装 方法
【主权项】:
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