[发明专利]密度测井扩径校正方法及装置在审
| 申请号： | 202010380487.6 | 申请日： | 2020-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN111520126A | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 陈萍;崔京彬;熊伟;姚燕飞;刘迪;徐晨 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司 |
| 主分类号： | E21B47/00 | 分类号： | E21B47/00;E21B49/00;E21B47/08;G01V13/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王天尧;汤在彦 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种密度测井扩径校正方法及装置，该方法包括：确定每个深度点处是否扩径；确定每个深度点处的地层密度曲线是否失真；确定每个深度点处的地层密度上限和地层密度下限；确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值；根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度上限、地层密度下限和地层密度的计算校正值，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值；得到解释层段的地层密度校正值。实现了在校正过程中，消除了扩径下泥浆对于密度测量的影响，得到校正后的真实的地层密度值。且校正所需参数少，降低了计算复杂度，且受到人为因素的影响小，校正误差小。 | ||
| 搜索关键词： | 密度 测井 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
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