[发明专利]光学检测分体式分度盘在审
| 申请号： | 202010381855.9 | 申请日： | 2020-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN111721335A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 方华生 | 申请（专利权）人： | 华磊（嘉兴）智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/26 | 分类号： | G01D5/26 |
| 代理公司： | 杭州永航联科专利代理有限公司 33304 | 代理人： | 俞培锋 |
| 地址： | 314100 浙江省嘉兴市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及光学检测分度盘技术领域，本发明的技术方案为：光学检测分体式分度盘，包括分度盘主体，所述分度盘主体的圆周部位具有环形第一阶梯面，所述第一阶梯面的上端固定分度盘面，所述分度盘面包括四块齿分体，四块齿分体呈圆环状结构设置。本发明的分度盘面包括四块齿分体拼接而成，便于拆卸和组装，也便于加工，加工时不会出现变形，有利于提高装配效率，检测精度，降低生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 体式 分度 | ||
【主权项】：
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