[发明专利]一种由硅到金属晶圆键合的高温高压传感器及制备工艺在审

专利信息
申请号: 202010391523.9 申请日: 2020-05-11
公开(公告)号: CN111477737A 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 黄向向;杨敏;道格拉斯·雷·斯巴克斯;费玉斌;关健;孙斯佳 申请(专利权)人: 罕王微电子(辽宁)有限公司
主分类号: H01L41/113 分类号: H01L41/113;H01L41/22;G01L1/16;G01L9/08
代理公司: 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 代理人: 张晨
地址: 113000 辽宁省抚顺*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种由硅到金属晶圆键合的高温高压传感器,包括硅电阻层,金属圆片,金属薄膜,键合界面,金属连接层;硅电阻层组成电桥,金属圆片为硅电阻层提供衬底结构,硅晶圆与金属圆片键合形成键合界面,金属连接层起到电路连接的作用。一种由硅到金属晶圆键合的高温高压传感器制备工艺,硅电阻层:利用光刻,刻蚀和减薄工艺制程,为高温压力传感器电阻层;金属圆片为高温压力传感器主体结构,硅晶圆与金属圆片键合形成的键合界面由环氧树脂、玻璃、焊料构成可以由丝网印刷或光刻;金属连接层:利用物理气相沉积、光刻,剥离技术制成。本发明的优点:原理结构简单,精度高,稳定性好,有效克服传统高温高压传感器在高温下精度低、稳定性差的问题。
搜索关键词: 一种 金属 晶圆键合 高温 高压 传感器 制备 工艺
【主权项】:
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