[发明专利]一种新型熔点滑点仪及其校正测量方法在审
| 申请号： | 202010393431.4 | 申请日： | 2020-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN111398334A | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 史琼;陈若雷;朱中华 | 申请（专利权）人： | 上海仪电物理光学仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/04 | 分类号： | G01N25/04 |
| 代理公司： | 上海九泽律师事务所 31337 | 代理人： | 周云;卢双双 |
| 地址： | 201613 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种新型熔点滑点仪及其校正测量方法，用标准样品(对硝基甲苯(52.56℃)、偶氮苯(68.78℃)、萘(81.0℃))来校正仪器熔点(滑点)的精度，利用图像分析的优势，同时兼顾了试样熔点和动植物滑点的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 熔点 滑点仪 及其 校正 测量方法 | ||
【主权项】：
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