[发明专利]射频线损校准方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202010396646.1 | 申请日： | 2020-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN113726449A | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 邵晓亮 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04B17/30 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 洪铭福 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及射频线损校准方法、装置、电子设备及存储介质。本申请实施例包括：获取第一线损值、第二线损值、第三线损值和第四线损值；对所述第一线损值、所述第二线损值、所述第三线损值和所述第四线损值进行相关计算，以抵消固有线损；根据计算结果，确定所述第一线损值、所述第二线损值、所述第三线损值和所述第四线损值中的至少一项为射频线损值。通过本申请的实施例，能够通过计算抵消测量环境固有线损，从而为判断各个线损值的可靠度提供依据，进而有效提高射频线损的校准精度。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 校准 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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