[发明专利]脉冲型延时色散光谱测量方法和装置及光谱成像方法和装置有效
| 申请号： | 202010401969.5 | 申请日： | 2020-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN111504978B | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 王平;李昊政 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学;武汉华眸光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65;G01N21/63;G01N21/01 |
| 代理公司： | 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 | 代理人： | 廖盈春;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于光谱测量和光谱成像技术领域，本发明公开了一种脉冲型延时色散光谱测量方法和装置及光谱成像方法和装置；光谱测量方法包括：S1：通过脉冲激光激发待测样品并产生瞬时光谱；S2：将瞬时光谱中的不同光子在时间上进行延时处理并根据时序先后依次分开；S3：采用高速高灵敏光电探测器探测光谱中随时间而来的光子。本发明采用瞬间脉冲来激发样品，并将样品中被激发出的光谱集中到激发光脉冲之间的时间段，再利用单通道高灵敏光电探测器对时间上展开的光谱实现高效率的直接测量，不需要依赖多通道探测设备测量光谱；不仅可以高效利用光谱中的所有光子，而且还可以从数量级上提高光谱测量的灵敏度，从而提高光谱测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 脉冲 延时 色散 光谱 测量方法 装置 成像 方法 | ||
【主权项】：
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