[发明专利]一种半导体纳米材料热输运性质测试系统有效
| 申请号： | 202010404230.X | 申请日： | 2020-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN111555843B | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 包本刚;孔永红;朱湘萍 | 申请（专利权）人： | 湖南科技学院 |
| 主分类号： | H04L1/00 | 分类号： | H04L1/00;H04L5/00;H04W76/10;G08C17/02;G01N25/20 |
| 代理公司： | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 | 代理人： | 李蕊 |
| 地址： | 425100 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体纳米材料热输运性质测试方法，包括：由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据；与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接；接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置；接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号；判断参考信号的接收功率是否大于门限值；如果判断参考信号的接收功率大于门限值，则向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息；由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收发送的测试数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 纳米 材料 输运 性质 测试 系统 | ||
【主权项】：
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