[发明专利]在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法及计数器有效
| 申请号： | 202010406302.4 | 申请日： | 2020-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN111413729B | 公开（公告）日： | 2022-01-04 |
| 发明（设计）人： | 王昆仑;张思群;任晓东 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号： | G01T3/00 | 分类号： | G01T3/00 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 张超 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法及计数器，该方法包括慢化体、正比计数管、隔离电阻、隔离电容、放大电路、电缆和脉冲电源电路；脉冲电源电路，用于基于脉冲发生器生成的脉冲信号产生脉冲电压，并经电缆和隔离电阻发送给正比计数管；正比计数管，用于基于脉冲电压产生原始计数脉冲信号，并经隔离电容发送给放大电路，原始计数脉冲信号携带有偏压信号；放大电路，用于隔离原始计数脉冲信号携带的偏压信号，获取有效计数脉冲信号，并发送给示波器，以避开正比计数管被脉冲X射线辐照产生电子至电子被气体吸收之前的时间间隔，使得由X射线辐照电离产生的电子不因电场加速而增多，提高中子计数的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 脉冲 射线 环境 使用 中子 计数 方法 计数器 | ||
【主权项】：
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