[发明专利]用于确定技术系统的系统模型的方法在审

专利信息
申请号: 202010406557.0 申请日: 2020-05-14
公开(公告)号: CN111950114A 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: C.齐默尔;M.梅斯特;T.D.阮-蔷 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘晗曦;刘春元
地址: 德国斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 以多个测量点的轨迹来测量来创建技术系统的系统模型的方法,有步骤:提供轨迹中的部分轨迹;提供针对轨迹点说明容许性程度和可靠性程度的容许性模型,容许性程度说明轨迹点处的测量以何程度是(不)容许或(不)安全的,可靠性程度说明容许性模型在轨迹点处预测的可靠性;据由容许性模型在所提供部分轨迹的多个轨迹点确定的容许性程度和相应可靠性程度确定多元分布以确定部分轨迹总容许性程度;据容许性标准检查总容许性程度;据该检查的结果,以部分轨迹测量技术系统;据在该测量期间获得的状态参量创建系统模型;只考虑对关于预给定容许性阈值的不容许性的联合概率的贡献不确定小于预给定容许性标准的轨迹点的容许性程度来确定该总容许性程度。
搜索关键词: 用于 确定 技术 系统 模型 方法
【主权项】:
暂无信息
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