[发明专利]基板处理装置、半导体装置的制造方法和存储介质在审
申请号: | 202010407555.3 | 申请日: | 2020-05-14 |
公开(公告)号: | CN111952219A | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 吉野晃生;八幡橘 | 申请(专利权)人: | 株式会社国际电气 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01J37/32 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 金成哲;郑毅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种基板处理装置、半导体装置的制造方法和存储介质,在采用感应耦合方式的基板处理装置中也能够对基板面内均匀地进行处理。该基板处理装置具有:处理室,其对基板进行处理;气体供给部,其向所述处理室供给气体;高频电力供给部,其供给预定频率的高频电力;等离子体生成部,其具有在所述处理室的侧方卷绕的谐振线圈,并在向所述谐振线圈供给所述高频电力时在所述处理室生成等离子体;以及基板载置部,其在所述处理室内以所述基板的水平方向的中心位置不与所述谐振线圈的水平方向的中心位置重叠的方式载置所述基板。 | ||
搜索关键词: | 处理 装置 半导体 制造 方法 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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