[发明专利]基于超快光学扫频的宽带微波测量方法及装置有效
| 申请号： | 202010411271.1 | 申请日： | 2020-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN111610366B | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 张方正;周悦雯;潘时龙 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R23/165 | 分类号： | G01R23/165;G01R23/17 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于超快光学扫频的宽带微波测量方法，用待测微波信号对光载波进行调制，生成仅保留单边一阶边带的调制光信号；将所述调制光信号与一路线性调频光信号耦合后进行光电探测；然后利用一中频窄带带通滤波器对光电探测所得电信号进行滤波，并提取滤波后信号的包络；根据所述滤波后信号的包络进行时频对应，得到待测微波信号的频谱。本发明还公开了一种基于超快光学扫频的宽带微波测量装置。相比现有技术，本发明的扫描速度更快，扫描范围更大，工作频率及带宽更灵活。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光学 宽带 微波 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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