[发明专利]寻找软包绝缘不良电芯腐蚀点的方法在审
| 申请号： | 202010415085.5 | 申请日： | 2020-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN113675542A | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 张业军;彭升政;陈俊梯 | 申请（专利权）人： | 昆山聚创新能源科技有限公司 |
| 主分类号： | H01M50/533 | 分类号： | H01M50/533;H01M50/536;H01M10/058;G01R31/385 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 肖阳 |
| 地址： | 215333 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了寻找软包绝缘不良电芯腐蚀点的方法。该方法包括：(1)分别在绝缘不良电芯的负极耳上和电芯铝塑膜封边上打孔，以便在所述负极耳上形成第一孔洞，在所述铝塑膜封边上形成第二孔洞；(2)采用金属丝将所述第一孔洞和所述第二孔洞连接，以便使所述负极耳与所述铝塑膜封边的铝层接触；(3)将步骤(2)得到的绝缘不良电芯置于高温环境下，观察所述铝塑膜封边的腐蚀位置。该方法通过在绝缘不良电芯上人为外部短接负极与铝塑膜，制造电子通道，可以在高温环境下实现快速腐蚀，从而快速找出绝缘不良的根本原因并进行分析改善。 | ||
| 搜索关键词： | 寻找 绝缘 不良 腐蚀 方法 | ||
【主权项】：
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