[发明专利]一种金属增材制造非均质组织的阵列超声聚焦成像修正方法有效

专利信息
申请号: 202010417698.2 申请日: 2020-05-18
公开(公告)号: CN111610257B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 张俊;李晓红;杨兵;丁辉 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01N29/44 分类号: G01N29/44
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 杨宏伟
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种金属增材制造非均质组织的阵列超声聚焦成像修正方法,其步骤包括:构建非均质介质的空间结构模型;测量横观各向同性结构的弹性常数:利用X射线衍射标定法测量样品的横观各向同性的5个弹性常数,构成弹性矩阵C;设定阵列超声第一阵元位置超声入射的初始角度;顺向计算焦平面的声线终止点F';反向计算激励位置平面的声线终止点P';循环计算得到激励点与聚焦点之间的声传播时间;计算阵列超声时间延迟矩阵;根据延迟矩阵对超声信号叠加获得修正聚焦成像。本发明可以解决由于增材非均质组织产生的信号相位畸变导致的传统阵列超声聚焦方法失效问题,实现增材制件内部缺陷的高分辨成像检测。
搜索关键词: 一种 金属 制造 非均质 组织 阵列 超声 聚焦 成像 修正 方法
【主权项】:
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