[发明专利]一种无损检测片状金属磁粉磁导率的方法及装置有效
申请号: | 202010418438.7 | 申请日: | 2020-05-18 |
公开(公告)号: | CN111638102B | 公开(公告)日: | 2023-08-25 |
发明(设计)人: | 林俐 | 申请(专利权)人: | 湖南纳金新材料技术有限公司 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N27/72 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 肖宇扬;付静 |
地址: | 421000 湖南省衡*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明提供一种无损检测片状金属磁粉磁导率的方法,包括以下步骤:S1.制样步骤:使无序排列的片状金属磁粉经历磁场取向和振动压实,成型为平行排列的有序待测体;S2.测试步骤:对有序待测体进行电磁特性测试,直接测得磁导率,或,通过换算间接得出磁导率。片状金属磁粉在磁场的取向作用下按照一定的方向规整排布,更容易地被振实,也能够达到更高的密度,规整排布的片状金属磁粉更接近其在最终产品中的状态,能够提高磁导率检测的可靠性以及参考价值。利用磁性材料的研发、制备阶段产出的片状金属磁粉,即可较为准确地预测生产活动的最终产品的磁导率,对不合格的磁性材料可以迅速地排查而无须为了检测而投产。片状金属磁粉在进行磁导率检测后可以回收利用。 | ||
搜索关键词: | 一种 无损 检测 片状 金属 磁导率 方法 装置 | ||
【主权项】:
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