[发明专利]一种无损检测片状金属磁粉磁导率的方法有效
| 申请号： | 202010418877.8 | 申请日： | 2020-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN111638477B | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 戴雨兰 | 申请（专利权）人： | 广州天兹新材料科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 肖宇扬;付静 |
| 地址： | 510000 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种无损检测片状金属磁粉磁导率的方法，其特征在于：使片状金属磁粉在经历磁场取向步骤和径向压实步骤后成型为有序待测体，对有序待测体进行电磁特性测试以获得磁导率或能够用于计算磁导率的参数；磁场取向步骤为：使片状金属磁粉在磁场的作用下平行排列；径向压实步骤为：为片状金属磁粉提供径向压力；磁场取向步骤先于径向压实步骤开始实施，或，磁场取向步骤和径向压实步骤同时开始实施。片状金属磁粉在磁场的取向作用下按照一定的方向规整排布，更容易地被压实成型，规整排布的片状金属磁粉更接近其在最终产品中的状态，能够提高磁导率检测的可靠性以及参考价值。制样和检测的过程皆不损伤片状金属磁粉，可以回收利用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 无损 检测 片状 金属 磁导率 方法 | ||
【主权项】：
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